Liu, Ruijie; Yang, Ying; Li, Linlin; Ding, Steven X.:
Key Performance Indicators Based Fault Detection and Isolation Using Data-Driven Approaches
In: IEEE Transactions on Circuits and Systems, Part II : Express Briefs, Jg. 68 (2021), Heft 1, S. 291 - 295
2021Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
Key Performance Indicators Based Fault Detection and Isolation Using Data-Driven Approaches
Autor*in:
Liu, Ruijie
;Yang, Ying
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;Li, LinlinUDE
LSF ID
12202
ORCID
0000-0002-6387-6013ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2021
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TCSII.2020.2993306
IEEE ID
9090325
Web of Science ID
000603475200057
Scopus ID
85098270102
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Circuits and Systems, Part II : Express Briefs
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans. Circuits Syst. Express Briefs
Erscheinungsort:
New York
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
in:
Jg. 68 (2021), Heft 1, S. 291 - 295
ISSN
1558-3791 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1549-7747 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2028232-1
Signatur der UB:
88 Z 69
Notiz:
seit 51.2004
Vorgänger:
IEEE Transactions on Circuits and Systems, Part II : Analog and Digital Signal Processing
Schlagwort, Thema:
fault detection and isolation ; generalized likelihood ratio based reconstruction ; Key performance indicators ; subspace-aided approach
Ressourcentyp:
Text