Chen, Zhiwen; Liu, Chang; Ding, Steven X.; Peng, Tao; Yang, Chunhua; Gui, Weihua; Shardt, Yuri A. W.:
A Just-In-Time-Learning-Aided Canonical Correlation Analysis Method for Multimode Process Monitoring and Fault Detection
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE), Jg. 68 (2021), Heft 6, S. 5259 - 5270
2021Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
Damit verbunden: 1 Publikation(en)
Titel in Englisch:
A Just-In-Time-Learning-Aided Canonical Correlation Analysis Method for Multimode Process Monitoring and Fault Detection
Autor*in:
Chen, ZhiwenUDE
LSF ID
53691
ORCID
0000-0002-4759-0904ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Liu, Chang
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Peng, Tao
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;Yang, Chunhua
;Gui, Weihua
;Shardt, Yuri A. W.
Erscheinungsjahr:
2021
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TIE.2020.2989708
IEEE ID
9080560
Web of Science ID
000621470900064
Scopus ID
85101780215
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE)
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans Ind Electron
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
in:
Jg. 68 (2021), Heft 6, S. 5259 - 5270
ISSN
1557-9948 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0278-0046 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0018-9421 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2027527-4
Signatur der UB:
88 Z 16
Schlagwort, Thema:
Canonical correlation analysis (CCA) ; data driven ; just-in-time learning (JITL) ; multimode process monitoring
Ressourcentyp:
Text