Xue, Ting; Ding, Steven X.; Zhong, Maiying; Zhou, Donghua:
An Integrated Design Scheme for SKR based Data-Driven Dynamic Fault Detection Systems
In: IEEE Transactions on Industrial Informatics (T-IINF) / Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) (Hrsg.). , Jg. 18 (2022), Heft 10, S. 6828 - 6839
2022Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
An Integrated Design Scheme for SKR based Data-Driven Dynamic Fault Detection Systems
Autor*in:
Xue, Ting
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Zhong, Maiying
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;Zhou, DonghuaUDE
LSF ID
1501
ORCID
0000-0003-0169-8490ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
korrespondierende*r Autor*in
Erscheinungsjahr:
2022
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TII.2022.3147796
IEEE ID
9699015
Web of Science ID
000838389400035
Scopus ID
85124202672
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Industrial Informatics (T-IINF)
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans. Ind. Inf.
Herausgeber*in:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
in:
Jg. 18 (2022), Heft 10, S. 6828 - 6839
ISSN
1941-0050 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
1551-3203 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2172163-4
Ressourcentyp:
Text
Schlagwort, Thema:
Data-driven ; Distributionally robust optimization ; Fault detection ; Generators ; Informatics ; Integrated design ; Probabilistic logic ; Probability distribution ; Stable kernel representation (SKR) ; Stochastic processes ; Uncertainty
Ressourcentyp:
Text