Ai, Mingxi; Xie, Yongfang; Ding, Steven X.; Tang, Zhaohui; Gui, Weihua:
Domain Knowledge Distillation and Supervised Contrastive Learning for Industrial Process Monitoring
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE), Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 9452 - 9462
2023Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
Domain Knowledge Distillation and Supervised Contrastive Learning for Industrial Process Monitoring
Autor*in:
Ai, Mingxi
ORCID
0000-0002-0284-2995ORCID iD
;Xie, Yongfang
ORCID
0000-0002-2060-6574ORCID iD
Sonstiges
korrespondierende*r Autor*in
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Tang, Zhaohui
ORCID
0000-0003-4132-4987ORCID iD
;Gui, Weihua
ORCID
0000-0002-5337-6445ORCID iD
Erscheinungsjahr:
2023
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TIE.2022.3206696
IEEE ID
9896730
Web of Science ID
000975959600078
Scopus ID
85139418773
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE)
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans Ind Electron
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
in:
Jg. 70 (2023), Heft 9, S. 9452 - 9462
ISSN
1557-9948 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0278-0046 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0018-9421 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2027527-4
Signatur der UB:
88 Z 16
Schlagwort, Thema:
Convolutional neural networks ; Deep learning ; Feature extraction ; Hard negative ; industrial process monitoring ; knowledge distillation ; Knowledge engineering ; memory queue-based negative sample augmentation ; Process monitoring ; Reliability ; supervised contrastive learning ; Task analysis