Gao, Long; Li, Donghui; Chen, Zhiwen; Ding, Steven X.; Luo, Hao:
SIR-Aided Dynamic : Canonical Correlation Analysis for Fault Detection and Isolation of Industrial Automation Systems
In: IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE) (2023), in press
2023Artikel/Aufsatz in ZeitschriftClosed access
ElektrotechnikFakultät für Ingenieurwissenschaften » Elektrotechnik und Informationstechnik » Automatisierungstechnik und komplexe Systeme
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Titel in Englisch:
SIR-Aided Dynamic : Canonical Correlation Analysis for Fault Detection and Isolation of Industrial Automation Systems
Autor*in:
Gao, Long
;Li, Donghui
;Chen, ZhiwenUDE
LSF ID
53691
ORCID
0000-0002-4759-0904ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Ding, Steven X.UDE
GND
134302427
LSF ID
2347
ORCID
0000-0002-5149-5918ORCID iD
Sonstiges
der Hochschule zugeordnete*r Autor*in
;Luo, Hao
Erscheinungsjahr:
2023
Open Access?:
Closed access
DOI
10.1109/TIE.2023.3337553
Web of Science ID
001127407100001
Scopus ID
85179820206
Notiz:
in press
Sprache des Textes:
Englisch
Erschienen in
IEEE Transactions on Industrial Electronics (T-IE)
Titel in Englisch (abgekürzt):
IEEE Trans Ind Electron
Erscheinungsort:
Piscataway
Verlag:
IEEE
in:
in press
ISSN
1557-9948 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0278-0046 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ISSN
0018-9421 Verfügbarkeit online & gedruckt anzeigen
ZDB ID
2027527-4
Signatur der UB:
88 Z 16
Schlagwort, Thema:
Automation ; Canonical correlation analysis (CCA) ; closed-loop dynamic ; Correlation ; Fault detection ; fault detection ; Feedback control ; Generators ; optimal fault isolation ; residual generation ; Steady-state ; Transient analysis
Ressourcentyp:
Text